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基礎信息Product information
產品名稱：
多通道多物理場長期老化試驗系統
產品型號：Huace-LHD系列
廠商性質：生產廠家
所在地：北京市
更新日期：2026-06-26
產品簡介：
華測儀器Huace-LHD系列多通道多物理場長期老化試驗系統可同時處理多個樣品，每路單獨控制：在多路同時老化時，每路可以設置不同的老化電壓和老化時間，且各路極化互不影響。
產品特性Product characteristics
| 品牌 | 華測 |
|---|
Huace-LHD系列多通道多物理場長期老化試驗系統
價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師
Huace-LHD系列多通道多物理場長期老化試驗系統由華測儀器生產，能夠模擬多種工業制品、零部件以及原材料的實際生產、使用、儲存和運輸過程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、加速溫度變化、溫度循環等環境因素的影響，以測試其功能、性能及壽命的完整性和可靠性，可進行連續試驗，高能簡便地評估因老化腐蝕現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。
產品參數
Huace-LHD-4
通道數：4ch（至大25ch）
保護功能：過壓、過流、短路、過溫保護
散熱方式：采用PWM調速風機、風冷
測試時間：60天
被測物：標準樣材、異形件（夾取方式）
輸出電源類型：直流
電源輸出范圍：電壓：0~1kV
電流：0 ~ 1A
電源調解率：電壓：0.1%F.S
設定準度：電壓：0.1%F.S
Huace-LHD-8
通道數：8ch（至大40ch）
輸出電源類型：直流/交流
劣化分析（LHD8）：電流采集：1pA ~ 20mA
測量精度：1％
測試時間：10s/1ch(可設置)
電源輸出范圍：電壓：5kV ~ 20kV
京公網安備11011302007502號